泽伊塔ZETA-20三维光学轮廓仪价格:2.00元/套 最小起订量:2 套 供货总量:2 套 发货期限:自买家付款之日起30天内发货 有效期至:长期有效
Zeta三维光学轮廓仪Zeta-20 卓越的三维成像和测量基于ZDot™专利技术,Zeta-20可以对近乎所有材料和结构进行成像分析,从超光滑到高粗糙度、低反射率到高反射率表面、透明到不透明介质。Zeta-20使用模块化设计理念,为用户提供了一系列的硬件和软件选项来满足各种不同的测量需求,所有硬件安装和操作都简单易用。多功能光学测试模组Zeta-20提供多种光学测试技术满足用户各种领域测试需求ZDotTM Z点阵专利三维成像技术是Zeta所有系列产品的标配技术,Z点阵独特的明暗场照明方案结合不同物镜帮助客户测量最“困难”的表面。ZIC 干涉反衬成像技术,实现纳米级粗糙度表面的成像及分析。
ZSI 白光差分干涉技术,垂直方向分辨率可达埃级。ZX5 白光干涉技术,大视场下纳米级高度的理想测量技术。ZFT 反射光谱膜厚分析技术,集成宽频反射光谱分析仪,可测量薄膜材料的厚度、折射率和反射率。
测量通道和精度
ZDOT | ZX5 | ZiC | ZSi | ZFT | |
粗糙度 > 40nm | √ | ||||
粗糙度 < 40nm | √ | ||||
大视场、Z方向高分辨率 | √ | ||||
15nm - 25mm台阶高度 | √ | ||||
5nm - 100µm台阶高度 | √ | ||||
< 10nm台阶高度 | √ | ||||
缺陷:尺寸 < 1µm,高度 < 75nm | √ | √ | |||
缺陷:尺寸 > 1µm,高度 < 75nm | √ | ||||
30nm < 薄膜厚度 < 15µm | √ | ||||
薄膜厚度 > 15µm | √ |
Zeta-20标配系统 | 硬件和软件可选项 | |
测试系统 | 超大深度成像 | 标准物镜:2.5×,5×,10×,20×,50×,100×,150× |
标配Z点阵(ZDot) | 特殊物镜:长工作距离,浸没物镜,TTM物镜 | |
双高亮度LED光源 | 白光干涉模组(ZX5):X5物镜,压电陶瓷载台 | |
真彩色CCD相机(1/3"),1024×768像素 | Nomarski模组(ZIC):棱镜,起偏器,检偏器 | |
30帧/秒,数据采集 | 反射光谱膜厚测试模组(ZFT) | |
单耦合镜,四种规格可选 | 白光差分干涉技术(ZSI):0.5Å分辨率,0.1nm台阶高度测试能力 | |
5物镜手动转台 | 高分辨率相机(1/2",1920×1440像素) | |
自动聚焦 | 背光LED | |
最大25mm垂直扫描/次(20×,长工作距离) | 自动物镜识别/6物镜自动转台 | |
40mm垂直工作距离(可扩展至100mm) | 耦合镜:1×,0.63×,0.5×,0.35× | |
载台和卡盘 | 手动XY载台(100mm×100mm) | 手动150mm×150mm载台 |
高精度Z轴传动 | 自动100mm×100mm载台 | |
可配置载物台(开放设计) | 压电陶瓷载台(0.2nm步距,100µm传动距离) | |
倾斜载台(±20 deg) | ||
高精度倾斜载台(±6 deg) | ||
手动旋转载台 | ||
卡盘适用尺寸:2"-8"圆形,5"或6"方形 | ||
硬盘卡盘:65mm-95mm | ||
适于背光卡盘 | ||
可定制特殊卡盘 | ||
软件 | 非接触测量台阶高度,表面粗糙度,特征尺寸,如直径,面积,体积等 | ZMORF先进的数据分析软件 |
允许同一视场中存在超低反射率(﹤0.5%)和超高反射率(﹥85%)区域 | 最大4"晶圆曲翘度测量 | |
透明/半透明材质测量 | 膜厚测试光谱仪,可见光(适用于膜厚30nm-10µm) | |
透明或半透明多层结构分析 | 自动图像拼接 | |
高粗糙度和高深宽比结构分析 | 自动多点量测 | |
自由调节水平测量 | 先进软件分析包 | |
Ra,Rq,Rz,Rsk,Rk以及其它ISO4287参数 | 离线分析软件 | |
Sa,Sq,Sz,Ssk,Sk以及其它ISO25178参数 | 多种应用Recipe: | |
基于颜色和高度的区域筛选分析 | PSS量测 | |
三维成像软件,可进行滤波,真假色切换,缩放,旋转等 | 金刚线 | |
定制的报告格式 | 金刚石研磨垫 | |
简易文件管理和多格式数据输出 | 太阳能单晶/多晶绒面 | |
时间:30秒内/点 | 太阳能细栅线 | |
太阳能主栅线 | ||
太阳能电池片曲翘度 |